Kupować SN74ABT8652DL z BYCHPS
Kup z gwarancją
SN74ABT8652DL
- Part Number:
- SN74ABT8652DL
- Producent:
- Opis:
- IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
- Stan ołowiu / status RoHS:
- Bezołowiowa / zgodna z RoHS
- Dostępna Ilość:
- 16612 Pieces
- Arkusz danych:
- SN74ABT8652DL.pdf
Wprowadzenie
BYCHIPS jest dystrybutorem zaopatrzenia dla SN74ABT8652DL, mamy zapasów do natychmiastowej wysyłki, a także dostępne na długi czas dostaw. Prześlij nam swój plan zakupu dla SN74ABT8652DL e-mailem, otrzymasz najlepszą cenę zgodnie z planem.
Specyfikacje
| Źródło napięcia: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Dostawca urządzeń Pakiet: | 28-SSOP |
| Seria: | 74ABT |
| Opakowania: | Tube |
| Package / Case: | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| Inne nazwy: | 296-4114-5 |
| temperatura robocza: | -40°C ~ 85°C |
| Liczba bitów: | 8 |
| Rodzaj mocowania: | Surface Mount |
| Poziom czułości na wilgoć (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Standardowy czas oczekiwania producenta: | 6 Weeks |
| Numer części producenta: | SN74ABT8652DL |
| Logic Type: | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
| Rozszerzony opis: | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP |
| Opis: | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP |
| Email: | [email protected] |
Podobne zamienne do SN74ABT8652DL
| Obraz | Part Number | Producenci | Opis | Widok |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT8652DLR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT8652DWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT8652DWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT8652DW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT8646DW | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT8652DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT8652DWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT8652DLG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT8646DWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT861DW | Texas Instruments | IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SOIC | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT863NT | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 9BIT 24DIP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT8646DLG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT863DW | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 9BIT 24SOIC | Zapytanie ofertowe |
Latest Aktualności
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog