Kupować SN74ABT18245ADLR z BYCHPS
Kup z gwarancją
SN74ABT18245ADLR
- Part Number:
- SN74ABT18245ADLR
- Producent:
- Opis:
- IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
- Stan ołowiu / status RoHS:
- Bezołowiowa / zgodna z RoHS
- Dostępna Ilość:
- 14471 Pieces
- Arkusz danych:
- SN74ABT18245ADLR.pdf
Wprowadzenie
BYCHIPS jest dystrybutorem zaopatrzenia dla SN74ABT18245ADLR, mamy zapasów do natychmiastowej wysyłki, a także dostępne na długi czas dostaw. Prześlij nam swój plan zakupu dla SN74ABT18245ADLR e-mailem, otrzymasz najlepszą cenę zgodnie z planem.
Specyfikacje
| Źródło napięcia: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Dostawca urządzeń Pakiet: | 56-SSOP |
| Seria: | 74ABT |
| Opakowania: | Original-Reel® |
| Package / Case: | 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| Inne nazwy: | 296-3938-6 |
| temperatura robocza: | -40°C ~ 85°C |
| Liczba bitów: | 18 |
| Rodzaj mocowania: | Surface Mount |
| Poziom czułości na wilgoć (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Standardowy czas oczekiwania producenta: | 6 Weeks |
| Numer części producenta: | SN74ABT18245ADLR |
| Logic Type: | Scan Test Device with Bus Transceivers |
| Rozszerzony opis: | Scan Test Device with Bus Transceivers IC 56-SSOP |
| Opis: | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP |
| Email: | [email protected] |
Podobne zamienne do SN74ABT18245ADLR
| Obraz | Part Number | Producenci | Opis | Widok |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT18646PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT18245ADGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT18504PMRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT18640DL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT18245ADL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT18502PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT18652PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT18504PMG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT18640DLR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT18504PMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT18502PMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT18504PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT18640DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74ABT18640DGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | Zapytanie ofertowe |
Latest Aktualności
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog