Kupować SN74LVTH18504APMR z BYCHPS
Kup z gwarancją
SN74LVTH18504APMR
- Part Number:
- SN74LVTH18504APMR
- Producent:
- Opis:
- IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP
- Stan ołowiu / status RoHS:
- Bezołowiowa / zgodna z RoHS
- Dostępna Ilość:
- 15102 Pieces
- Arkusz danych:
- SN74LVTH18504APMR.pdf
Wprowadzenie
BYCHIPS jest dystrybutorem zaopatrzenia dla SN74LVTH18504APMR, mamy zapasów do natychmiastowej wysyłki, a także dostępne na długi czas dostaw. Prześlij nam swój plan zakupu dla SN74LVTH18504APMR e-mailem, otrzymasz najlepszą cenę zgodnie z planem.
Specyfikacje
| Źródło napięcia: | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|
| Dostawca urządzeń Pakiet: | 64-LQFP (10x10) |
| Seria: | 74LVTH |
| Opakowania: | Original-Reel® |
| Package / Case: | 64-LQFP |
| Inne nazwy: | 296-14933-6 |
| temperatura robocza: | -40°C ~ 85°C |
| Liczba bitów: | 20 |
| Rodzaj mocowania: | Surface Mount |
| Poziom czułości na wilgoć (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Standardowy czas oczekiwania producenta: | 6 Weeks |
| Numer części producenta: | SN74LVTH18504APMR |
| Logic Type: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| Rozszerzony opis: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10) |
| Opis: | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP |
| Email: | [email protected] |
Podobne zamienne do SN74LVTH18504APMR
| Obraz | Part Number | Producenci | Opis | Widok |
|---|---|---|---|---|
|
SN74LVTH18502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74LVTH182652APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74LVTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74LVTH182504APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74LVTH182646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74LVTH18511DGGR | Texas Instruments | IC UNIV BUS TXRX 18BIT 48TSSOP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74LVTH18504APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74LVTH18514DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74LVTH18504APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74LVTH182502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74LVTH18502APMR | Texas Instruments | IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74LVTH18502APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Zapytanie ofertowe |
|
SN74LVTH18512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | Zapytanie ofertowe |
Latest Aktualności
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog